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[技术杂谈] NEJM:深度测序让致病突变无所遁形

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发表于 2014-8-25 22:38 | 显示全部楼层 |阅读模式

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致病突变有时只影响了小部分细胞,在这种情况下,二代基因组测序很容易遗漏这些突变。为此,波士顿儿童医院的研究人员开发了一种实现深度测序的新方法,并在大脑疾病患者中成功鉴定了微小的体细胞突变(受到影响的细胞只占百分之几)。这项研究发表在八月二十一日的《新英格兰医学》杂志上,为鉴定神经和精神类疾病的病因提供了新工具。

“有两种体细胞突变容易被忽视,”领导这项研究的Christopher Walsh博士指出。“一种是局限在特定组织的突变。举例来说,如果突变只存在于大脑,而我们检测的是血液,那就找不到这些致病突变。另一种致病性体细胞突变虽然发生在所有组织中,但是只影响一部分细胞,因此不容易被检测到。”

Walsh和博士后Saumya Jamuar通过“定向高覆盖度测序”技术,为158名脑部疾病的患者鉴定致病突变,这些患者的症状包括癫痫、智力障碍、语言障碍等。

研究人员并没有分析整个基因组或外显子组(所有蛋白编码基因),而是把注意力放在一系列已知或有嫌疑的基因上,并且大大提高了测序的深度。

全基因组或外显子组测序是将DNA分成小片段,然后对各个片段多次读取(一般是三十次)。然而,如果突变只发生在15-20%的细胞中,三十次读取还不足以可靠地捕捉到它们,尤其是当突变只影响一个基因拷贝时。

为此,Walsh、Jamuar等人在测序候选基因时将读取次数增大到200次以上。他们由此为27名患者(17%)确诊了致病突变,其中八个致病突变只发生在一部分血细胞中(嵌合突变)。研究显示,传统Sanger基因组测序和全外显子测序都有所遗漏。

“我们的研究表明,就算只有10%的血细胞发生突变,也能引起严重的脑部疾病,”Walsh说。“将测序局限在一定范围之内,并提高测序覆盖度,可以为我们找到更多的致病突变,帮助人们进一步理解相关疾病。”

Walsh认为,这项研究的结果也对de novo突变引发的疾病有帮助,比如自闭症、癫痫等等。“传统上观点认为,机体内所有细胞的基因都是一样的。致病突变要么是父母遗传下来的,要么来自受孕前的精子和卵子,”Jamuar解释道。“我们的研究转变了这一看法,证明不少大脑疾病的致病突变发生在怀孕之后,这些突变很容易被常规检测忽略。鉴定这些突变不仅能帮助我们尽快确诊,还可以为患者家庭提供更准确的遗传学建议。”

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